EJ/T 1204.2-2006 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分：考虑样品处理影响的计数测量
标准名称：电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分：考虑样品处理影响的计数测量
发布日期：2006-12-15
实施日期：2007-05-01
标准编号：EJ/T 1204.2-2006
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
EJ/T 1204.2-2006 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分：考虑样品处理影响的计数测量
标准编号：EJ/T 1204.2-2006
标准名称：电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分：考虑样品处理影响的计数测量
本部分使用统计学方法规定了两个表征着给定错误概率的统计值，用以评估考虑、样品处理影响的电离辐射测量中的探测能力。本部分适用于考虑样品处理影响的计数测量。
起草单位：中国原子能科学研究院
起草人：魏可新、李景云
主管部门：国防科学技术工业委员会
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